日本日置高阻計SM7420
HIOKI高阻計SM7420是用于評估和檢查智能手機、混動電動汽車中的電子元件性能的4ch測試儀器。而且，和HIOKI之前的DSM-8542相比，檢查速度提高了1倍，測量的再現(xiàn)性和抗干擾性都有大幅提升，因此能大大的提高評估和檢查的效率。
日本日置高阻計SM7420適合于安裝在自動設備中的4ch微小電流測量專用機型，日本日置高阻計SM7420不標配測試用探頭。請根據(jù)測試目的另外購買選件中的探頭。
● 實現(xiàn)了是以往機型300倍的抗干擾性能
● zui快6.4ms的高速測量
● 通道獨立低電容接觸檢查
● zuida顯示2×10^19 Ω，zui小分辨率0.1 fA
● 標配EXT I/O、RS-232C、GP-IB、USB
● 適合于安裝在自動設備中，構建簡單的MLCC泄漏電流檢查線
HIOKI高阻計SM7420產(chǎn)品特點
1.實現(xiàn)4ch測量
電子元件生產(chǎn)中，為了提高產(chǎn)量，有時需要并列同時測量多通道，SM7420繼承了之前機型DSM-8542的優(yōu)點，可以進行4ch的絕緣測量。
※用于測量的電源需要另外準備。
2.檢查速度是以往機型的2倍，縮短了檢查時間。
zui快檢查時間是6.7ms（0.0067秒），和以往機型的檢查速度相比提高了1倍。由于縮短了檢查時間，因此生產(chǎn)效率也會提升。
3.通過改善測量的再現(xiàn)性和抗干擾性，提高生產(chǎn)效率
和以往機型相比，測量的再現(xiàn)性和抗干擾性有大幅提升。在同一條件下進行反復測量時，測量值的變化程度降低為通常測量時的1/60。而且，混入50V干擾時，zui小能達到1/300，降低了變化幅度。
這樣，通過增強測量的穩(wěn)定性，從而提高檢查的效率。
20PΩ測量SM7120中4CH機型登場
保留SM7120的抗干擾和測量功能，專門測量微小電流的4CH機型全新登場。 這是適用于組裝至自動設備中的高速機型，比如MLCC檢查的批量生產(chǎn)檢查等。
搭載接觸檢查功能的皮安表
標配了接觸檢查功能。通過和外部電源組合使用的微小電流測量功能，可以實現(xiàn)接觸檢查，因此組裝時可以放心使用。無需過多的嘗試，提高整體的工時。 4通道單獨檢查，可以設置頻率和延遲時間，因此能夠做符合產(chǎn)線設計的細微調整。
日本日置高阻計SM7420的技術參數(shù)：
| 測量通道數(shù) | 4ch |
|---|---|
| 直流電流測量(精度) | 20 pA量程 (分辨率 0.1 fA), 精度 ±(2.0% of rdg. +30 dgt.) 200 pA量程 (分辨率1.0 fA), 精度±(1.0% of rdg. +30 dgt.) 2 nA量程 (分辨率10 fA), 精度±(0.5% of rdg. +20 dgt.) 20 nA量程 (分辨率100 fA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 200 nA量程 (分辨率1 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 2 μA量程 (分辨率10 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 20 μA量程 (分辨率100 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 200 μA量程 (分辨率1 nA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) ※2 mA量程 (分辨率10 nA), 精度±(0.5% of rdg. +30 dgt.) (1) 測量速度設置 SLOW2=內部累積時間設為13PLC時 (2) 溫度范圍 23 ±5℃ 濕度 85% rh以下 (3) 2 mA量程時只能在測量速度為FAST時選擇 |
| 電阻顯示范圍 | 50 Ω ?2×10 ^19 Ω ※電阻測量精度由電流量程精度和電壓設置精度規(guī)定 |
| 電流限制 | 0.1?250.0 V: 5/ 10/ 50 mA, 251?1000 V: 5/ 10 mA,1001V?： 1.8mA |
| 測量時間設置 | 延遲時間: 0～9999 ms |
| 功能 | 通道獨立接觸檢查、通道獨立線長補償、通道獨立治具電容開路補償、比較器 |
| 顯示 | LCD顯示(30位，8行)、背光、高壓警告顯示 |
| 接口 | USB, RS-232C, GP-IB |
| 電源 | AC100?240 V , 50/60 Hz, 45 VA |
| 體積及重量 | 330W × 80H × 450D mm, 6.5 kg |
| 附件 | 電源線×1, 使用說明書×1, CD (通訊指令說明書, USB驅動)×1, EXT I/O用公頭連接器×1 |
